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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
GXF-215C型數(shù)顯式硅酸根分析儀是火力發(fā)電廠、核發(fā)電廠、石油、化工等行業(yè)對(duì)其化學(xué)除鹽水、鍋爐給水、蒸汽、凝結(jié)水中硅酸根（SiO2）含量測(cè)定以 及純水制備過(guò)程中水質(zhì)監(jiān)測(cè)的*儀表。
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GXF-215C型數(shù)顯式硅酸根分析儀是火力發(fā)電廠、核發(fā)電廠、石油、化工等行業(yè)對(duì)其化學(xué)除鹽水、鍋爐給水、蒸汽、凝結(jié)水中硅酸根（SiO2）含量測(cè)定以 及純水制備過(guò)程中水質(zhì)監(jiān)測(cè)的*儀表。測(cè)定方法依據(jù)GB12150-89“鍋爐用水和冷卻水分析方法——硅的測(cè)定“(硅鉬藍(lán)光度法)”。
本系列儀器具有不工作時(shí)的待機(jī)功能，對(duì)光源采取了有效的保護(hù)，可以連續(xù)的運(yùn)行在現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境。檢測(cè)元件的恒溫環(huán)境使得儀器的穩(wěn)定性更具的保證。
型號(hào) | GXF-215B硅酸根分析儀 (高精度) | GXF-215C硅酸根分析儀 |
測(cè)量范圍 | 0~50.0μg/LsiO2 | 0~199.9μg/LSiO2 |
基本誤差 | ≤±2.0μg/L | ≤±2.5%FS |
重復(fù)性誤差 | ≤±0.2μg/L | ≤±0.5%FS |
短期漂移 （30分鐘） | ≤±0.2μg/L | ≤±0.5%FS |
長(zhǎng)期漂移 (24小時(shí)） | ≤±2.0μg/L | ≤±2.5%FS |
化學(xué)方法 | 硅鉬蘭光度法 GB 12150—89 | |
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